本文着重讨论 X 射线荧光光谱仪（XRF）无标样定量分析方法，对该方法的理论基础和一些关键算法进行了概述，详细讨论了重点算法如基本参数法和经验系数法的一些关键点和局限性，并通过实例证明了该非标样测试技术可靠及实用，指出其目前存在的难点技术如复杂基体影响、谱线重叠影响等并提出了解决方法。同时，对这项技术今后的发展趋势做了预测。本文研究表明，非标样的 X 射线荧光光谱定量分析方法在测试速度和非破坏性测试上有明显的优势，并且有望通过算法升级及技术整合提高测试的精准性，拓宽使用范围，从而提供给人们更有效的物质组分分析解决方法
